(1) Von einer breitbandigen Quelle mit niedriger Kohärenz (z. B. einer SLED) emittiertes Licht wird durch einen Strahlteiler (oder Faserkoppler) in zwei Strahlen aufgeteilt und gelangt in den Referenzarm bzw. den Probenarm.
(2) Das Licht im Referenzarm wird von einem Spiegel zurückreflektiert.
(3) Nachdem das Licht im Probenarm das zu untersuchende Gewebe oder Material beleuchtet, kehrt zurückgestreutes Licht aus verschiedenen Tiefen zurück.
(4) Die beiden Strahlen werden am Strahlteiler wieder vereint. Ein Interferenzsignal wird nur dann erzeugt, wenn der optische Wegunterschied zwischen den beiden Armen innerhalb der Kohärenzlänge der Lichtquelle liegt. Diese kurze Kohärenzlänge gewährleistet die hohe axiale Auflösung des Systems.
(5) Durch Scannen der Position des Referenzspiegels oder durch Frequenzdurchlauf zur Erfassung von Interferenzsignalen kann das System zweidimensionale oder dreidimensionale tomografische Bilder der Probe Schicht für Schicht rekonstruieren.
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Komponente |
Funktionsbeschreibung |
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SLED-Lichtquelle |
Bietet breitbandiges Licht mit niedriger Kohärenz und dient als Kernlichtquelle für das OCT-System, um eine hohe axiale Auflösung zu erreichen; arbeitet typischerweise im Nahinfrarotband von 800–1550 nm. |
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Faserkoppler/Splitter |
Teilt die Lichtquelle in einen Probenarm und einen Referenzarm auf und kombiniert die Echosignale von beiden Armen im Detektor. |
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Sonde |
Fokussiert den Lichtstrahl auf die Oberfläche oder das Innere der Probe und sammelt rückreflektierte/rückgestreute optische Signale aus unterschiedlichen Tiefen. |
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Referenzspiegel |
Bietet einen stabilen optischen Referenzpfad. Es ändert die optische Weglänge des Referenzarms durch präzises axiales Scannen, realisiert die Anpassung des Interferenzsignals an reflektiertes Licht aus unterschiedlichen Probentiefen und vervollständigt das tiefenaufgelöste Scannen. |
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PD |
Erkennt optische Interferenzsignale vom Probenarm und Referenzarm. |
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Datenerfassungssystem (DAQ) |
Wandelt fotoelektrische Signale in digitale Signale zur Echtzeitverarbeitung und -speicherung durch den Computer um. |
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PC |
Verarbeitet die erfassten Interferenzsignale über Algorithmen wie Fast Fourier Transform (FFT) und rekonstruiert hochauflösende 2D- oder 3D-Tomographiebilder der Probe. |
840 nm 20 mW SLED-Breitbandlichtquelle
840 nm 10 mW 35 nm BW SLD-Diode
1060 nm 1064 nm SLD-Lichtquelle
F1: Welche Wellenlänge (in nm) der SLD-Breitbandlichtquelle wird typischerweise in der OCT verwendet?
A1: Biomedizinische Bildgebung → 800–1060 nm;
Industrielle Inspektion/Glasfaseranwendungen → 1300–1550 nm.
F2: Benötigt eine SLED-Breitbandlichtquelle einen Isolator?
A2: Für industrielle Anwendungen ist es notwendig, die Größe der reflektierten optischen Leistung unabhängig zu beurteilen; Bei Bedarf können mehrere Isolatoren erforderlich sein.
F3: Verfügen die von Ihnen angebotenen SLD-Lichtquellen über eine integrierte Treiberschaltung?
A3: Ja, wir bieten modulare Lösungen an, die den Laserchip, die Treiberschaltung und (optional) einen Faserkoppler integrieren. Dies ermöglicht eine direkte Nutzung oder weitere Systemintegration, ohne dass der Kunde einen externen Treiber anschließen muss.
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